微信扫码

  • 暂无热线电话
 英国雷尼绍工业测量一站式供应商
    首页 >新闻中心 > 线上购物

    雷尼绍宣布在EMO 2017上推出适用于REVO®多类型传感器的全新表面粗糙度检测测头

    分享到:
    点击次数:1590 更新时间:2017年08月09日14:35:39 打印此页 关闭

    雷尼绍宣布在EMO 2017上推出适用于REVO®多类型传感器的全新表面粗糙度检测测头


    2017年6月

    全球领先的坐标测量机 (CMM) 设备制造商雷尼绍,宣布推出全新改进的SFP2表面粗糙度检测测头;该测头适合在CMM上与雷尼绍REVO五轴测量系统配套使用。

    SFP2测头增强了REVO系统的表面粗糙度测量能力 — REVO具有多类型传感器功能,可在单台CMM上提供触发式、高速接触式扫描和非接触式影像测量。

    REVO在CMM上将表面粗糙度测量和尺寸检测功能结合在一起,相较于需要单独进行操作的传统检测方法而言,具有无与伦比的优势。在五轴测量技术的支持下,SFP2的自动化表面粗糙度检测可显著节省时间、减少工件搬运,并获得更高的投资回报。

    SFP2系统由测头和一系列模块组成,能够与REVO的其他测头自动交换,灵活性高,可在同一CMM平台上轻松选择最佳工具检测多种特征,由多个传感器采集的数据自动参照同一基准。

    SFP2表面粗糙度检测系统使用与REVO系统相同的符合I++ DME标准的界面来管理,由雷尼绍MODUSTM测量软件提供所有用户功能。

    屡获殊荣的雷尼绍获REVO五轴测量系统是唯一能同步控制CMM上三个机器坐标轴和两个测座轴运动,并同时采集工件数据的扫描系统。REVO系统使用各种2D和3D接触式测头、表面粗糙度检测测头和非接触式影像测头,显著提高了CMM工件检测的速度和精度。

    参观者可在9月18–23日举办的EMO 2017德国汉诺威欧洲机床展的雷尼绍展台上一睹全新SFP2系统的风采。

    上一条:雷尼绍3D打印技术助力路虎BAR帆船队提升实力 下一条:雷尼绍代理商 全系供应雷尼绍产品